itaku質問ポスト

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対応スペック

試験
  • 振動試験
    • 加振力:10kN
    • 周波数範囲:~4500Hz
    • 正弦波振動試験
    • ランダム振動試験
  • 衝撃試験
    • 衝撃加速度:10~3,000G
    • 衝撃作用時間:0.1~60msec
  • 複合振動試験
    • 温度制御範囲:-70℃~+150℃
    • 湿度制御範囲:20%~98%
    • 内寸:1m(W)×1m(D)×1m(H)
  • 参照規格
    • JIS C 60068-2-6
    • JEITA ED-4701/400A
    • MIL-STD-810

概要

  • 振動
  • 衝撃
  • 落下
  • 複合振動

振動・衝撃試験

得られるデータ

製品・部品に対して振動・振動+温度・湿度に対する耐性評価ができます

対象物

電子部品、電子機器、その他製品

機械強度試験とは

電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動への影響や耐久性を評価致します。

サービスの特徴

正弦波振動試験・PSDランダム波振動試験・クラシカルショック波振動試験を実施。輸送・梱包試験をはじめ、車載・航空機器関連分野におけるさまざまな試験環境を実現します。試験体によっては、専用治具を同社にて作成、試験の実施も可能です。

相談・見積依頼 相談・見積依頼 (サンプル表示では押せません)

実績

衝撃試験

電子部品、電子機器、その他製品が使用中または落下時等に受ける衝撃への影響や耐久性を評価致します。

参照規格:
JIS C 60068-2-27
MIL-STD-202, 810, 883
JEITA ED-4701/400A

複合振動試験

電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動への影響や耐久性を評価致します。
高温、低温、湿度環境下で正弦波振動、ランダム振動のストレスを加えるで試験です。
低温ー70℃~高温150℃、湿度20%~98%RHの範囲で試験可能です

落下試験

主に梱包貨物が輸送中、取扱い中に受ける落下衝撃に対する影響や耐久性を評価致します。
人力による扱いを想定した角、りょう、面に衝撃を加える自由落下試験です。

株式会社レスターエレクトロニクス について

ものづくりNIPPONのテクニカルサポーター

株式会社レスターエレクトロニクスは、お客様に満足して頂けるサービスを提供し続けるために、以下の方針を定め、品質マネジメントシステムの要求事項を満たし、継続的な改善に取り組みます。

1.体制
業務の品質・信頼性を保証し、かつ継続的な維持・向上を行う事業の組織体制を構築します。

2.品質システム
業務遂行の基準となる品質マネジメントシステムは、ISO/IEC17025規格要求事項に適合する事業所標準を構築し運用、及びその有効性の継続的な改善に積極的に取り組みます。

3.技術
ISO/IEC17025規格要求事項を満足する技術を保有し、要求事項に基づいた業務遂行とともに、技術・技能の維持・向上をはかります。

4.教育
従業員に対して品質マネジメントシステムと、ISO/IEC17025規格要求事項について定期的に教育を実施し、品質方針、及び品質マネジメントシステムの理解と順守を義務付けます。

5.業務
従業員は、ISO/IEC17025要求事項に基づいた業務を遂行いたします。

会議方法 Teams, Google Meets, WebEx, 電話,Eメール,面談
来客駐車場 5 台
ホームページ https://rec-reliability-test.com/

よくあるご質問

試験治具に関して

試験治具の製作は可能でしょうか?
治具仕様をご提示頂ければ弊社試験機の台座に合うよう製作致します。

相談・見積依頼 相談・見積依頼 (サンプル表示では押せません)

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  • 振動試験
  • 温湿度サイクル
  • 環境試験
  • 環境ストレス
  • 耐性
  • 温度サイクル

複合振動試験サービス

宇宙・⾞載・半導体など、⾼い技術⼒でお客様をサポートいたします

株式会社レスターエレクトロニクス 
  • 真贋判定
  • 半導体
  • 偽造
  • 非破壊検査
  • X線観察

半導体の真贋判定サービス

半導体・電子部品が世界的に不⾜しており、市場に模倣品が数多く流通しております。 メーカーによっては模倣品対策を強化しておりますが、模倣品による品質事故の発⽣は年々増加傾向にあり一向に後を絶ちません。弊社では⻑年培った経験と技術⼒を⽤い、非破壊検査にて真贋判定を実施しております。 ◆ご提供頂きたいもの︓「良品半導体」および「検証半導体」

株式会社レスターエレクトロニクス 
  • IC
  • 異物混入
  • ハイブリッドIC
  • PIND

PIND試験(微粒子衝撃雑音検出)

宇宙向けハイブリッドICなど中空構造部品内部に混入した異物の有無を判定し、ショート等のトラブルを未然に検出するための試験装置です。

株式会社レスターエレクトロニクス 
  • IC
  • リーク試験
  • ハイブリッドIC
  • 密閉性評価
  • 中空構造

リーク試験

ファインリーク試験

株式会社レスターエレクトロニクス 
  • はんだ
  • ぬれ性
  • 耐圧性
  • はんだ付け性評価
  • はんだ耐熱性

はんだ試験

【はんだぬれ性試験】 はんだのぬれとは、溶けたはんだが端子の上に広がっている状態をいい金属の種類、フラックス、金属表面の状態によりぬれ性は変化します。はんだ平衡法、ソルダーペースト法、小球法の試験が可能です。 【はんだ耐熱性試験】 実装工程における電子部品が受ける熱ストレスへの影響を評価致します。 ベーク・吸湿の前処理を行い保管状態を再現、リフロー実施後、剥離やクラックの発生有無を確認致します。

株式会社レスターエレクトロニクス 
  • 促進耐候性
  • 日照試験
  • 長時間

サンシャインウェザー試験

・上下4灯のサンシャインカーボンアークを使用し  約78時間の連続点灯の連続照射型 ・照射と暗黒(結露)の昼夜条件を再現したデューサイクル試験が可能で  極めて高い促進性が得られます ・独自の点灯回路を確立した自動運転制御  安定した分光放射照度分布で試験再現性に優れます ・暴露との相関性を向上(紫外部の量を調整可能)

株式会社レスターエレクトロニクス 

お困りですか?

探している技術や疑問、聞きたいことなどお気軽にお問合せください。