itaku質問ポスト

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対応スペック

Presently Editing

概要

  • 半導体
  • 不良解析
  • 応力分析
  • 分光解析
  • 顕微鏡検査
  • 外観検査

半導体評価・分析・解析・試験

得られるデータ

各種分析、不良解析、応力分析等、必要に応じて評価レポートを発行します。

対象物

半導体ウェハー、トランジスタ、メモリー、太陽電池、MEMSなど

半導体評価・分析・解析・試験サービス

顕微鏡検査・分光解析など不良解析のための分析サービスをご提供します。下記は一部の例ですが、このほかにもご提供可能なサービスがございますので、お気軽にご相談ください。

【試験分析】
SEM、TEM、STEM、EDS、EELS、SIMS、集束イオンビーム、オージェ電子分光装置、XPS、ICP、パーティクル検査装置、膜厚測定、IR-OBIRCH、EBAC、ナノプローブ、PEM

【電気試験】
TDDB、NBTI、エレクトロマイグレーション評価、ESD、HCI

【信頼性試験】
高温試験、低温試験、温度サイクル試験、PCT、HAST

【材料試験】
ICP-MS、ICP、ZAA、TXRF、ICG、GC-MS、P&T-GC、MFS、FTIR、API-MS

サービスの特徴

各種分析、不良解析、応力分析等、必要に応じて評価レポートを発行します。
STEM・TEM・SEM観察
各種分析(ICP-MS、SIMS)
外観解析、特性解析
このほかにもご提供可能なサービスがございます。ご相談ください。

相談・見積依頼 相談・見積依頼 (サンプル表示では押せません)

実績

ナノプローブ測定例

微細電極測定例

tei SOLUTIONSについて

ティーイーアイソリューションズ株式会社について

ティーイーアイソリューションズは、研究開発支援を提供するインテグレーテッドファンウドリーです。個人の研究者から大企業まで、どなたでもティーイーアイソリューションズを利用いただけます。ナノテクノロジー、バイオテクノロジー、太陽電池、クリーンエネルギーなど、半導体技術を応用し、様々な分野の研究開発が可能です。柔軟なビジネスモデル・厳密な情報管理・顧客第一主義を基本理念として、お客様の長期に渡るビジョンをサポートしていきます。

飛躍的な技術革新 - 将来のR&Dのあり方

 人類の文明は、何世紀もの間技術革新で支えられてきました。人類は、先進的手法・プロセスや道具を用い、世界の発展(人類にとって有益な新しい技術の開発)を目指しています。地球上の人口が増え続けるにつれて、技術革新はこれまでにもまして重要になっています。しかしながら、研究開発費は高騰を続け、大手企業でさえも十分な研究開発施設を持てないところが増えています。大学や、個人の研究者には大きな障壁であり、優れたアイデアが製品化されないで埋もれてしまう例が多くあります。
 この問題を解決するため、我々は研究開発者の方に必要な装置・人材・知識を提供する会社を設立しました。開発のトータルソリューションを提供し、技術革新を実現する環境をつくることを望んでいます。

ホームページ https://tei-solutions.com/jp/

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