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    • 振動試験
    • 温湿度サイクル
    • 環境試験
    • 環境ストレス
    • 耐性
    • 温度サイクル

    複合振動試験サービス

    宇宙・⾞載・半導体など、⾼い技術⼒でお客様をサポートいたします

    株式会社レスターエレクトロニクス 
    • 真贋判定
    • 半導体
    • 偽造
    • 非破壊検査
    • X線観察

    半導体の真贋判定サービス

    半導体・電子部品が世界的に不⾜しており、市場に模倣品が数多く流通しております。 メーカーによっては模倣品対策を強化しておりますが、模倣品による品質事故の発⽣は年々増加傾向にあり一向に後を絶ちません。弊社では⻑年培った経験と技術⼒を⽤い、非破壊検査にて真贋判定を実施しております。 ◆ご提供頂きたいもの︓「良品半導体」および「検証半導体」

    株式会社レスターエレクトロニクス 
    • 動作
    • ハイスピードカメラ
    • 挙動
    • 変位
    • 速度
    • 角度

    ハイスピードカメラによる動作解析(2D/3D)

    ハイスピードカメラにより撮影された映像データをもとに、被写体に取り付けられたマーカーをトラッキング。座標データと時間データから、変位・速度・加速度・角度・2点間距離などの定量解析データを算出します。マーカーがつけられない場合でも、特徴点を追尾してデータ算出ができます。また、解析結果は様々な形式からお客様のご用途に適した形式をお選びいただけます。

    株式会社 ナックイメージテクノロジー
    • シリコンウェハ
    • 接合基板
    • 半導体
    • 試験片
    • ウェハ
    • MEMS

    AFMによる表面粗さ測定

    弊社では精密研磨加工・鏡面加工を受託で行っております。そのため、他社にはない、より高精度な面粗さや平面度が求められる案件を数多くいただいております。面粗さの測定機はAFMや非接触式測定機など各種所有しており、お客様の仕様に応じて使い分けております。また測定だけではなく、面粗さの修正加工や各幾何公差の精度入れ加工、また鏡面加工や試作品の製作なども合わせて対応可能です。研磨・鏡面加工技術についての詳細は弊社ホームページをご覧ください。ご質問等ございましたら、ぜひお気軽にお問い合わせ下さい。

    株式会社ティ・ディ・シー
    • シリコンウェハ
    • フォトマスク基板
    • 半導体製造装置部品
    • セラミックスプレート
    • 金属平板
    • 精密鏡面板

    平面度測定

    弊社では精密研磨加工・鏡面加工を受託で行っております。そのため、他社にはない、より高精度な平面度が求められる案件を数多くいただいております。平面度の測定機は三次元測定機とレーザー干渉計を所有しており、お客様の仕様に応じて使い分けております。また測定だけではなく、平面度の修正加工や各幾何公差の精度入れ加工、また鏡面加工や試作品の製作なども合わせて対応可能です。研磨・鏡面加工技術についての詳細は弊社ホームページをご覧ください。ご質問等ございましたら、ぜひお気軽にお問い合わせ下さい。

    株式会社ティ・ディ・シー
    • EMC
    • EMI
    • EMS
    • 電波暗室
    • シールドルーム
    • 電磁ノイズ

    EMC試験

    京浜地区では民間で初めてのEMC試験所としてスタート致しました。 これからは遠方のオープンサイトまで通わずに近くの設備を利用することが可能となり、 時間及び作業性にマッチした効率的な環境をご提供致します。 また、熟練したスタッフによる測定及び対策にもご満足いただけることをお約束致します。

    株式会社イシカワ EMC研究所
    • スクリーニング
    • マテインフォ
    • 材料

    機械学習を用いた最適材料選定のための分子探索

    ・数十万種類の「購入可能な材料」から目的性能を満たす材料をスクリーニングすることで、研究開発現場で実際にお使いいただける材料をご提案することが可能です。 ・材料科学の経験を有するメンバーが多く、貴社の研究テーマを理解した上でのコミュニケーションが可能です。 ・MI専業企業として蓄積したプラクティスから、MIの難所を理解し、実現可能性の高い提案が可能です。

    MI-6株式会社
    • 分子設計
    • 物性最適化
    • 量子化学計算
    • マテインフォ

    機械学習を用いた新規化合物の設計

    ・貴社の技術者の専門知識を組み込んだ分子生成モデルを設計し、既存の設計では得られなかった新規な候補化合物の発見が可能です。 ・材料科学の経験を有するメンバーが多く、貴社の研究テーマを理解した上でのコミュニケーションが可能です。 ・MI専業企業として蓄積したプラクティスから、MIの難所を理解し、実現可能性の高い提案が可能です。

    MI-6株式会社
    • 機械
    • 材料
    • 品質

    板成形試験

    本商品は、プレス成形用薄鋼板のみならず、プレス成形が難しいと言われているSUS、Al、Tiの板について、非接触で三次元の成形歪測定を可能とし、新材料開発や成形条件の最適化に有益な情報を提供するものである。

    株式会社コベルコ科研
    • 機械
    • 材料
    • 自動車

    落錘衝撃試験

    重すい量は110kg~490kg。落下高さは最大16.5mまで試験速度は~60km/h相当です。ストロークは最大600mmまでの落下試験が可能です。また,負荷様式は種々調整できます。

    株式会社コベルコ科研
    • 機械
    • 材料
    • 品質

    フレッティング疲労特性評価

    材料のフレッティング疲労強度を実験的に評価します。

    株式会社コベルコ科研
    • 機械
    • 材料
    • 輸送機
    • 土木
    • 原子力

    落錘、落下衝撃試験

    弊社では、自由落下式の落錘衝撃試験機を用いて、構造部材等の耐衝撃性評価のサポートを行っております。  与える運動エネルギは、重錘の重量と落下高さで安易に調整することができ、最大72kJ程度まで入力可能です。  試験機定盤上に設置可能な様々な形状の構造体に対して試験が可能で、試験時の衝撃力、変位、加速度、歪などの計測や高速度ビデオカメラによる撮影もご依頼に応じて行います。  また試験機の力学的特徴を生かし、試験体を落下させ衝撃加速度を加える落下衝撃試験の対応も行っており、モーターや電子部品等の耐衝撃性評価にも使用可能です。  こちらは、落下高さと緩衝材を調整し、試験時の加速度と作用時間の調整を行うことで実施いたします。

    株式会社コベルコ科研
    • IoT
    • センサー
    • 通信
    • ウェアラブル
    • 半導体

    後工程技術課題解決のための受託開発サービス提供

    お客様のあらゆるご希望に応えるべく、半導体チップやモジュールの実装形態に応じて、 セラミック、有機、フィルムなど様々な基板材料に対応可能な、低温低荷重のMonstePACプロセスのほか、 ご相談内容に応じて、具体的な構造のご提案や構造設計、プロセス提案、サンプル試作、信頼性評価から量産まで、ワンストップでご提供いたします。 さまざまなメニューをご用意し、試作数量の制約無くお客様のご要望に最適なプロセスおよび実装構造を提案します。

    コネクテックジャパン株式会社
    • X線CT検査
    • 非破壊検査
    • 欠陥

    X線CTレンタルラボ

    X線レンタルラボとは、X線CT装置と解析用PCが設置された施錠可能な個室をご利用いただけるサービスです。専任のオペレーターが、装置の操作・データ解析をサポートしますので、ご要望に応じた検査をリアルタイムで実行可能です。安心のワンプライス制で、個数制限はありません。また、豊富なラインナップ、解析ソフトを用意しておりますので、お客様の様々なご要望にお応えいたします。 ※お客様が来場されなくてもリモートで指示を受け、弊社オペレータが代行評価する“リモートレンタルサービス”もございます。

    株式会社ニコンソリューションズ
    • 半導体
    • 不良解析
    • 応力分析
    • 分光解析
    • 顕微鏡検査
    • 外観検査

    半導体評価・分析・解析・試験

    各種分析、不良解析、応力分析等、必要に応じて評価レポートを発行します。 STEM・TEM・SEM観察 各種分析(ICP-MS、SIMS) 外観解析、特性解析 このほかにもご提供可能なサービスがございます。ご相談ください。

    tei SOLUTIONS